平成２１年度　実績報告書

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Dr. Kazi S.Abedin Marc Eberhard講師 Dr. Han Chuen Lim 岡村康行教授 村田博司准教授 会場風景 ポスター会場 Workshop4:Workshop on application of atomic force microscopyは、2010年1月14日(木)-15日(金)、阪急EXPO-PARKホテルで開催された。海外らの参加は、ドイツ、スイス、チェコ、米国から6名で、国内招待講演者3名、阪大学生2名、計11件の発表を行なった。 電子デバイスに利用される材料の特性を原子レベルで解明しようという研究が、走査型プローブ顕微鏡を用いて行われつつある。 例えば、半導体中のドーパント原子、分子エレクトロニクス材料で利用される個々の分子、材料内部に存在する種々の欠陥、粒界に存在する微量な元素などの電子状態と構造がどのように材料の特性を決めているのかを原子レベルで調べることが求められている。 EDIS2009のセッションであるWorkshop on application of atomic force microscopyはこのような材料分野からのニーズに沿った形でプログラムを企画した。具体的には、原子分解能を有する原子間力顕微鏡(おもに試料の構造を測定する)と走査型トンネル顕微鏡(おもに試料の電子状態を測定する)研究のうちGCOEのメインテーマである電子デバイスに近い分野の研究者を招待した。 例えば、チェコの科学アカデミーから招待したJelinek博士の研究では、半導体の共有結合と電流の関係を、実験と理論計算から明らかにした。ドイツのレーゲンスブルク大学のRepp教授には分子エレクトロニクス材料の電子状態を測定しながら構造を操作する技術を講演していただいた。バーゼル大学のGlatzel博士には周波数変調方式の原子間力顕微鏡を用いた電子状態測定に関する講演を行っていただいた。 参加者は約50名程度であり、東京からも多く参加いただいた。これは本ワークショップのトピックスが非常に興味を持たれているからであると思われる。 140

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